特許

J-GLOBAL ID：200903021554608640

臨床検査システム

発明者： 光山 訓 ,  島田 和之 ,  松尾 仁司 ,  斎藤 聡
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-208225
公開番号（公開出願番号）：特開2002-022748
出願日： 2000年07月05日
公開日（公表日）： 2002年01月23日
要約：

【要約】【課題】 検査結果に対し、再検の必要性の有無を高精度に自動判定可能な臨床検査システムを実現する。【解決手段】 再検要と判定された検体に対する再検結果あるいは再検不要と判定された検体の一部に対する再検結果等の蓄積された再検実施情報と検査結果を用いて再検要否判定論理を最適化する。

請求項（抜粋）：

複数の被検者の検体の検査結果に対し、所定のパラメータを持つ再検要否判定論理により再検査要否を判定する機能を有する臨床検査システムにおいて、前記再検要否判定論理により再検要とされた被検者の検体については再検査を施すとともに、再検査を行ったか否かを示す再検実施情報、初回検査結果および再検結果とを参照して前記再検要否判定論理のパラメータを修正することを特徴とする臨床検査システム。

IPC (2件)：

G01N 35/00 ,  G06F 17/60 126

FI (2件)：

G01N 35/00 A ,  G06F 17/60 126 G

Fターム (3件)：

2G058AA08 ,  2G058GD05 ,  2G058GD07