光波測距装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：西澤利夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-273255
公開番号（公開出願番号）：特開平9-113624
出願日： 1995年10月20日
公開日（公表日）： 1997年05月02日
要約：

【要約】【課題】測定距離の関数で表される多重反射が原因となる光波測距装置の測距誤差をなくし、測距精度を向上させる。【解決手段】測定点に置かれた反射鏡(4)に向かって強度変調信号を出射する発光手段(2)と、反射鏡(4)により反射されて戻ってきた変調光を受光する受光手段(5)と、発光手段(2)と受光手段(5)の変調信号の位相差を計測する位相測定手段(6)とを備え、測定距離の関数で表せられる測距誤差を内部に格納し、位相測定結果より得られた測定点までの距離から誤差成分を除去する補正演算手段(7)により補正演算を行う。

請求項（抜粋）：

測定点に置かれた反射鏡に向かって強度変調信号を出射する発光手段と、前記反射鏡により反射されて戻ってきた変調光を受光する受光手段と、発光手段と受光手段の変調信号の位相差を計測する位相測定手段とを備え、位相測定の結果により測定点までの距離を演算する光波測距装置であって、測定距離の関数で表せられる測距誤差を内部に格納し、位相測定結果より得られた測定点までの距離から誤差成分を除去する補正演算手段を備えてこの補正演算手段により測距補正演算を行うことを特徴とする光波測距装置。

IPC (3件)：

G01S 17/36 , G01C 3/06 , G01S 7/48

FI (3件)：

G01S 17/36 , G01C 3/06 Z , G01S 7/48 A

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