特許

J-GLOBAL ID：200903021607556752

プリント基板検査データ作成方法

発明者： 吉田 浩之 ,  花田 恵二 ,  大江 邦夫
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 小鍜治 明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-003137
公開番号（公開出願番号）：特開平6-207963
出願日： 1993年01月12日
公開日（公表日）： 1994年07月26日
要約：

【要約】【目的】 電子部品を実装するプリント基板に対し、複数ロボットと複数のプローブを使用し、導通検査、短絡検査という電気的検査を行う設備を動かすための基板検査データの作成において、各ロボットの干渉回避を考慮した効果的なデータ作成方法を提供する。【構成】 プリント基板のネットリスト情報を各ネット単位で分割し各ネット内で基準となるポイントを抽出し(ステップ#1)、各ネット内で基準のポイントと他のポイントのペア情報となる検査情報を作成し(ステップ#3)、座標値の関係からどのプローブで検査するのかを割り当て(ステップ#4)、基板検査データを作成する。また両面基板対応用に、複数のプローブを同時に動かし検査可能となるデータに変換する(ステップ#5〜ステップ#11)。

請求項（抜粋）：

複数のXYロボットとプローブを使用して電子部品を実装するプリント基板の導通検査装置を動作させる検査データの作成方法であって、プリント基板のネットリスト情報を各ネット単位で分割する第1工程と、各ネット内で基準となるポイントを抽出する第2工程と、各ネット内で基準のポイントと他のポイントのペア情報を作成する第3工程と、座標値の関係からどのプローブで検査するのかを割り当てる第4工程からなるプリント基板検査データ作成方法。

IPC (2件)：

G01R 31/02 ,  G06F 15/60 370

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平4-019575
  
• 特開平4-102077
  
• 特開平4-340484