特許
J-GLOBAL ID:200903021620906568
蛍光測定装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
竹本 松司 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-172426
公開番号(公開出願番号):特開平10-019780
出願日: 1996年07月02日
公開日(公表日): 1998年01月23日
要約:
【要約】【課題】 励起スペクトル測定と蛍光スペクトル測定を同時に行うことができる蛍光測定装置を提供する。【解決手段】 励起光を試料に入射し、該励起光により発生する蛍光を検出する蛍光測定装置において、互いに分離された複数の空間領域を有した試料セル11を備え、各空間領域に対して異なる波長を含む複数の励起光の中の一の励起光を照射し、各空間領域から放出される蛍光を検出する。空間領域は互いに分離して形成されているため、一の空間領域に照射された励起光は、光の直進性によって他の空間領域には侵入しない。そのため、各空間領域内では、単一の励起光のみが照射され、この励起光により励起される蛍光のみが発生し検出器は、各空間領域から放出する蛍光の蛍光スペクトルを検出する。これによって、励起スペクトル測定と蛍光スペクトル測定の同時測定を可能とする。
請求項(抜粋):
励起光を試料に入射し、該励起光により発生する蛍光を検出する蛍光測定装置において、互いに分離された複数の空間領域を有した試料セルを備え、各空間領域に対して異なる波長を含む複数の励起光の中の一の励起光を照射し、各空間領域から放出される蛍光を検出することを特徴とする蛍光測定装置。
IPC (3件):
G01N 21/64
, G01N 21/01
, G01N 30/74
FI (3件):
G01N 21/64 Z
, G01N 21/01 B
, G01N 30/74 F
引用特許:
審査官引用 (3件)
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粒子解析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-261574
出願人:キヤノン株式会社
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特開昭55-112547
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特開昭57-156542
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