特許
J-GLOBAL ID：200903021643759821
形状計測のための縞パターン投影画像の二値化方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
矢葺 知之 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-096652
公開番号（公開出願番号）：特開平9-280837
出願日： 1996年04月18日
公開日（公表日）： 1997年10月31日
要約：
【要約】【課題】 縞パターンの二値化を走査線の微小範囲ごとに行うことにより、ほぼリアルタイムで光源の明るさムラや被測定物の反射率変化による縞の明るさの変化が二値化画像に及ぼす影響を除去すること。【解決手段】 被測定物に投影された、明るさにムラのある縞パターンの二値化処理を行う時に、一走査線の中を最低一本以上の明るい縞を含む範囲に分割して、それぞれの範囲ごとに二値化閾値を設定し、被測定物に投影された縞パターン画像を二値化する。
請求項（抜粋）：
複数のスリット光の歪み方から被測定物の形状を計測する方法において、前記複数のスリット光により形成された明暗の縞パターンを撮像装置で撮影し、前記撮像装置から出力された縞画像データを二値化する際に、各走査線ごとに明るい縞が最低一本以上含まれる範囲に分割し、前記範囲内の最大及び最小輝度値から二値化閾値を決定し、前記二値化閾値を用いて前記範囲内の縞画像に対して二値化処理を行うことで、初期画像の光量むらの影響を除去することを特徴とする形状計測のための縞パターン投影画像の二値化方法。
IPC (3件)：
G01B 11/24
, G06T 7/00
, G06T 5/00
G01B 11/24 A
, G06F 15/62 415
, G06F 15/68 320 Z
