特許

J-GLOBAL ID：200903021660554923

分子および微粒子・高分子量物質のサイズに基づく分離・検出方法

発明者： 安達 稔 ,  渡會 仁 ,  山田 修 ,  田中 武雄
出願人/特許権者： クラスターテクノロジー株式会社
代理人 (1件)： 南條 博道
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-067693
公開番号（公開出願番号）：特開2003-337126
出願日： 2003年03月13日
公開日（公表日）： 2003年11月28日
要約：

【要約】【課題】 高分子量の物質を分離すること。【解決手段】 基板上に微細な構造の分離部を設け、この分離部に試料を付与して分子および微粒子・高分子量物質を分離する。この分離部は、開口部と分離斜面と底部とを有し、開口部の幅方向に平行でかつ開口面に垂直な面で切断した場合の断面形状において、開口部の幅が0.05〜100μmであり、開口部から該底部までの深さが0.1〜1000μmであり、そして、分離斜面間の水平距離が底部に向かうに従って次第に減少するように構成されている。基板の端面には、分離部の大きさに対応する鏡面加工が施されたミリング面が設けれら、このミリング面を介して、分離物が検出される。

請求項（抜粋）：

基板に設けられた分離部に試料を付与する工程を含む分子および微粒子・高分子量物質の分離方法であって、該分離部は、開口部と分離斜面と底部とを有し、該開口部の幅方向に平行でかつ開口面に垂直な面で切断した場合の断面形状において、該開口部の幅が0.05〜100μmであり、該開口部から該底部までの深さが0.1〜1000μmであり、そして、該分離斜面間の水平距離が底部に向かうに従って次第に減少するように構成されている、方法。