特許
J-GLOBAL ID：200903021661733600
X線による試料の濃度分布測定方法および装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
井ノ口 壽
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-065560
公開番号（公開出願番号）：特開2005-257303
出願日： 2004年03月09日
公開日（公表日）： 2005年09月22日
要約：
【課題】容易に試料濃度分布および高精度な拡散係数を測定出来る方法を提供する。【解決手段】X線源1から放出したX線を、薄板状の試料5,6を納めた試料容器7に照射し、透過したX線の強度分布をX線測定器2により測定する。透過X線強度と試料濃度の関係式から試料5,6の濃度分布を得る方法である。異なる時間における試料濃度分布から、拡散係数を算出することができる。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
第1および第2の試料がある時点で境界(y方向)をもつ液相の薄い層を形成可能に収容する試料容器を準備するステップと、
前記第1および第2の試料が境界をもつ固/液相で配置されている状態で、前記容器内に配置するステップと、
前記容器内で前記何れかまたは両方の試料の相変換を起して、第1および第2の試料間に液相-液相境界を形成するために加熱するかまたは、前記第1および第2の試料の液相間の物理的境界を除去することにより液相-液相境界を形成するステップと、
前記液相-液相境界形成ステップ形成時点以降に前記層の前記境界(y方向)に垂直な方向(x方向)におけるX線透過量を測定するために前記層に垂直な方向(z方向)からX線を照射して透過X線を測定する透過X線測定ステップと、および
前記透過X線測定ステップで得られた透過率に関連するデータにより前記第1または第2の試料中の注目物質の濃度分布の変化を演算するステップと
から構成したX線による試料の濃度分布の測定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (26件)：
2G001AA01
, 2G001AA03
, 2G001AA10
, 2G001BA05
, 2G001BA11
, 2G001BA30
, 2G001CA01
, 2G001CA03
, 2G001CA10
, 2G001DA01
, 2G001DA09
, 2G001FA02
, 2G001GA17
, 2G001HA13
, 2G001JA07
, 2G001JA14
, 2G001KA01
, 2G001KA20
, 2G001LA11
, 2G001LA20
, 2G001MA02
, 2G001MA05
, 2G001NA07
, 2G001RA01
, 2G001RA03
, 2G001RA20
