特許

J-GLOBAL ID：200903021701078252

電池の検査方法

発明者： 村上 茂
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (1件)： 松隈 秀盛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-392870
公開番号（公開出願番号）：特開2002-198097
出願日： 2000年12月25日
公開日（公表日）： 2002年07月12日
要約：

【要約】【課題】 検査効率を向上することを目的とする。【解決手段】 電池1の電極巻回状態等を軟X線により検査する電池の検査方法において、複数の位置決め用凸リブ10a,10bが設けられた電池トレー10に、この位置決め用凸リブ10a,10bにより位置決めして複数個の電池1を所定位置に配置し、この複数個の電池1の電極巻回状態等をこの電池トレー10に配置したままこの軟X線により検査するようにしたものである。

請求項（抜粋）：

電池の電極巻回状態等を軟X線により検査する電池の検査方法において、複数の位置決め用凸リブが設けられた電池トレーに、前記位置決め用凸リブにより位置決めして複数個の前記電池を所定位置に配置し、前記複数個の電池の電極巻回状態等を前記電池トレーに配置したまま前記軟X線により検査するようにしたことを特徴とする電池の検査方法。

IPC (3件)：

H01M 10/40 ,  G01N 23/04 ,  H01M 10/48

FI (3件)：

H01M 10/40 Z ,  G01N 23/04 ,  H01M 10/48 A

Fターム (24件)：

2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001DA09 ,  2G001GA01 ,  2G001GA06 ,  2G001HA13 ,  2G001JA13 ,  2G001KA03 ,  2G001LA02 ,  2G001MA05 ,  2G001NA06 ,  2G001NA11 ,  2G001NA17 ,  2G001PA11 ,  2G001QA01 ,  5H029AJ00 ,  5H029AM00 ,  5H029AM16 ,  5H029BJ04 ,  5H029BJ14 ,  5H029CJ00 ,  5H030FF00