特許

J-GLOBAL ID：200903021705688071

におい測定装置およびにおい測定方法

発明者： 光田 恵 ,  小林 和幸 ,  喜多 純一 ,  赤丸 久光
出願人/特許権者： 学校法人大同学園 ,  東京電力株式会社 ,  株式会社島津製作所
代理人 (2件)： 喜多 俊文 ,  江口 裕之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-379224
公開番号（公開出願番号）：特開2007-178352
出願日： 2005年12月28日
公開日（公表日）： 2007年07月12日
要約：

【課題】食品の調理時に発生する調理臭の強度を高精度に測定する。【解決手段】m個(mは2以上の整数)の酸化物半導体型においセンサを使用して、調理時に発生する可燃性ガスおよびn個(nは2以上の整数)の標準においガスをそれぞれ測定し、前記可燃性ガスの測定結果に基づいて前記標準ガスの測定結果を補正する。補正した前記標準ガスの測定結果に基づいて、前記m個のにおいセンサの測定結果で形成されるm次元におい空間において、n個の補正標準においベクトル構成し、調理臭の測定結果により表されるにおいベクトルと前記補正標準においベクトルとの関係を演算手段にて演算することによって調理臭の強度を算出する。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

食品の調理によって発生する調理臭を識別するにおい測定装置において、m個(mは2以上の整数)の酸化物半導体型においセンサと、調理時に発生する可燃性ガスおよびn個(nは2以上の整数)の標準においガスをそれぞれ前記m個のにおいセンサで測定した結果を記憶する記憶手段と、前記標準においガスの測定結果を前記可燃性ガスの測定結果に基づいて補正する補正手段と、前記補正手段によって補正された結果を記憶する記憶手段と、前記m個のにおいセンサの測定結果で形成されるm次元におい空間において、前記補正手段の結果により表されるn個の補正標準においベクトルと、調理臭の測定結果により表されるにおいベクトルとの関係を演算するベクトル演算手段とを備えるにおい測定装置。

IPC (1件)：

G01N 27/12

FI (1件)：

G01N27/12 A

Fターム (2件)：

2G046AA01 ,  2G046DC18

引用特許：

出願人引用 (1件)

• におい測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-254975   出願人：株式会社島津製作所