特許

J-GLOBAL ID：200903021803668232

レーザー利用測定器

発明者： 高橋知隆
出願人/特許権者： グラフテック株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-097965
公開番号（公開出願番号）：特開平8-271632
出願日： 1995年03月30日
公開日（公表日）： 1996年10月18日
要約：

【要約】【目的】 基準測定対象と比較測定対象のそれぞれの測定及び基準測定対象と比較測定対象との差動測定を同時にかつ正確に行う。【構成】 差動測定に関わるキャリア成分と測定値成分とを有した信号のキャリア成分を遷移する手段を設けた。

請求項（抜粋）：

少なくとも2つの測定対象に対して各別にレーザー光を照射して該少なくとも2つの測定対象のそれぞれの性質または状態の情報がそれぞれ付与された測定レーザー光を得るようになしたものであって該それぞれの測定レーザー光がキャリア成分と測定値成分とを有するレーザー利用測定器において、上記それぞれの測定レーザー光に基づき各測定対象毎に各測定対象の性質または状態を示す測定信号を取得する個別測定手段と、上記少なくとも2つの測定対象に対して基準測定対象と比較測定対象とを定義したときの該基準測定対象の測定レーザー光のキャリア成分と上記比較測定対象の測定レーザー光のキャリア成分のいずれか一方または双方を異ならせるキャリア成分遷移手段とを有し、これら2つの測定レーザー光のキャリア成分を異ならした状態で基準測定対象に対する比較測定対象の差動比較信号を得る差動比較手段とを有したレーザー利用測定器。