特許

J-GLOBAL ID：200903021814213083

分光光度計

発明者： 西村 節志 ,  大隅 太郎
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 中村 茂信
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-138247
公開番号（公開出願番号）：特開平5-332833
出願日： 1992年05月29日
公開日（公表日）： 1993年12月17日
要約：

【要約】【目的】 最適なベースライン関数を迅速に得ることができ、そのベースラインによって測定スペクトルデータを適切に補正できる分光光度計を提供する【構成】 当該装置についてのベースラインを予め密な波長間隔で測定する第1のベースライン測定部1と、この測定結果を記憶する記憶部2と、必要に応じて動作しベースラインを相対的に粗い波長間隔で測定する第2のベースライン測定部3と、この第2のベースラインによって前記第1ベースラインを修正する修正部4と、修正されたベースラインに基づいて測定スペクトルデータを補正する補正部5とを備える。

請求項（抜粋）：

光源、検出器、その他の光学素子、並びに参照試料などの波長依存性を考慮して、測定結果データを適切に補正することのできる分光光度計であって、当該装置についてのベースラインを予め密な波長間隔で測定して記憶しておく第1のベースライン測定手段と、必要に応じて動作し、当該装置についてのベースラインを相対的に粗い波長間隔で測定する第2のベースライン測定手段と、測定された第2のベースラインによって前記第1ベースラインを修正し、修正されたベースラインに基づいて分光光度計の測定結果データを補正する補正手段とを備えることを特徴とする分光光度計。