特許
J-GLOBAL ID：200903021837881300

掃引波長計及び波長校正方法

発明者：
ドゥウェイニ・アール・アンダーソン

ドゥウェイニ・アール・アンダーソン について


出願人/特許権者：
テクトロニクス・インコーポレイテッド

テクトロニクス・インコーポレイテッド について


代理人 (2件)： 山口 邦夫 ,  佐々木 榮二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-143783
公開番号（公開出願番号）：特開2004-004080
出願日： 2003年05月21日
公開日（公表日）： 2004年01月08日
要約：
【課題】同調可能なレーザ用の正確な波長校正を行うと同時に、挿入損失及びリターン・ロスを決定するための正規化測定を通常の試験設定の一部として自動的に行う。【解決手段】変換器17は、所定の光波長範囲にわたる掃引レーザ用の光波長と循環的な電気信号を、この電気信号の各点に対応する波長が正確に既知であるように、掃引レーザの掃引光出力から発生する。ガス吸収セル28及び検出器30は、既知のスペクトル吸収線を用いて、掃引光出力から、電気信号用の校正基準を与える。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
掃引レーザ用の実時間波長校正装置を有する掃引波長計であって、 所定の光波長範囲にわたる上記掃引レーザ用の光波長と循環的な電気信号を、該電気信号の各点に対応する波長が正確に既知であるように、上記掃引レーザの掃引光出力から発生する手段と、 既知のスペクトル吸収線を用いて、上記掃引光出力から、上記電気信号用の校正基準を与える手段と を具えた掃引波長計。
IPC (3件)：
G01J3/02 ,  G01J9/02 ,  G01M11/02
FI (3件)：
G01J3/02 C ,  G01J9/02 ,  G01M11/02 J
Fターム (13件)：
2G020AA03 ,  2G020CA02 ,  2G020CA12 ,  2G020CB23 ,  2G020CB42 ,  2G020CC02 ,  2G020CC21 ,  2G020CD03 ,  2G020CD13 ,  2G020CD16 ,  2G020CD22 ,  2G020CD39 ,  2G086KK07
引用特許：
審査官引用 (4件)
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