特許
J-GLOBAL ID：200903022027888525
テストピ-スのひずみおよび引張力決定方法ならびに決定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大石 皓一 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-336007
公開番号（公開出願番号）：特開2000-186919
出願日： 1999年11月26日
公開日（公表日）： 2000年07月04日
要約：
【要約】 (修正有)【課題】 テストピースのひずみおよび/または引張力を決定することのできる改良された方法ならびにその方法を実施する装置を提供する。【解決手段】 テストピース8の表面7に、第一の入射角度を有する第一のコヒーレント光3、好ましくは、レーザ光および第二の入射角度を有する第二のコヒーレント光4、好ましくは、レーザ光を照射し、テストピース8の表面7から拡散状に反射された光を、剪断干渉計6によって、受光し、解析することを特徴とするテストピースのひずみおよび/または引張力を決定する。
請求項（抜粋）：
テストピースのひずみおよび/または引張力を決定する方法において、テストピース8の表面7に、第一の入射角度を有する第一のコヒーレント光3、好ましくは、レーザ光および第二の入射角度を有する第二のコヒーレント光4、好ましくは、レーザ光を照射し、前記テストピース8の前記表面7から拡散状に反射された光を、剪断干渉計6によって、受光し、解析することを特徴とするテストピースのひずみおよび/または引張力を決定する方法。
IPC (4件)：
G01B 11/16
, G01B 9/02
, G01M 17/02
, G01N 3/06
G01B 11/16 G
, G01B 9/02
, G01N 3/06
, G01M 17/02 Z
