特許

J-GLOBAL ID：200903022029571324

残留塩素測定方法及び残留塩素計

発明者： 植田 武志 ,  北本 尚 ,  伯耆田 武 ,  鹿取 洋一
出願人/特許権者： 横河電機株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-214792
公開番号（公開出願番号）：特開2004-053549
出願日： 2002年07月24日
公開日（公表日）： 2004年02月19日
要約：

【課題】残留塩素計において、少量の検水であっても良好にビーズを攪拌して電極を洗浄できる測定方法及び残留塩素計を提供する。【解決手段】残留塩素計は、検水を貯留すると共に垂直方向に長尺な有底筒形状に形成した測定槽と、この測定槽内に配置したビーズと、測定槽の底部をすり鉢型形状にしたビーズ収集部と、このビーズ収集部に水平方向から検水を入力する検水入口ノズル部と、検水入口ノズル部と対向する位置に極の面を臨ませて配設した作用極と、作用極の上部位置であって測定槽内に対極及び比較極を臨ませて配設した複合電極とを備えた構成にする。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

検水を貯留すると共に垂直方向に長尺な有底筒形状に形成した測定槽の底部分をすり鉢型形状に形成し、 該すり鉢型形状に形成した底部の水平方向から検水を入力するようにし、 該水平方向からの検水の入力により、すり鉢型形状に形成した底部に集まっているセラミックスビーズを、検水を入力する側と反対方向の壁面に臨ませて配設してある作用極を擦りながら上昇させ、所定上昇した後に前記すり鉢型形状をした底部に集まるセラミックスビーズを巡回させて前記作用極を擦らせるようにしたことを特徴とする残留塩素測定方法。

IPC (3件)：

G01N27/416 ,  G01N27/38 ,  G01N27/403

FI (5件)：

G01N27/46 316Z ,  G01N27/38 321 ,  G01N27/38 355 ,  G01N27/30 371G ,  G01N27/30 371Z