特許

J-GLOBAL ID：200903022078439873

光ピックアップ装置

発明者： 大谷 一起
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 松村 博
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-176361
公開番号（公開出願番号）：特開平9-035315
出願日： 1995年07月12日
公開日（公表日）： 1997年02月07日
要約：

【要約】【目的】 小型,軽量で、応答速度の速いチルト補正手段を有する光ピックアップ装置を実現する。【構成】 光源1から対物レンズ4に至る光路に、2分割された反射面を有し各反射率を独立に電気的に可変の液晶板13a及び13bからなる反射部材13を配置する。レーザビームと光ディスクとのチルト量をチルトセンサ11で検出し、その検出信号に基づいて、チルトに起因する光スポット7の形状劣化を補正するように、液晶板13a,13bの各反射率を変化させる。これにより、対物レンズ4に入射するレーザビーム2bの強度分布が変化し、クロストークが低減されて再生信号品質が向上する。

請求項（抜粋）：

光源から出射したレーザビームを対物レンズを通して集光し、その光スポットを光ディスク上に形成して、光ディスクからの再生信号を読み取る光ピックアップ装置であって、前記レーザビームと光ディスクとのチルト量を検出するチルト量検出手段と、前記レーザビームの光路中に配設され、2分割された反射面または透過面を有しそれらの各反射率または透過率をそれぞれ独立に電気的に可変の光学手段と、前記チルト量検出手段の検出信号に基づいて、前記レーザビームと光ディスクとのチルトに起因する前記光スポットの形状劣化を補正するように、前記光学手段の各反射率または透過率をそれぞれを変化させ前記対物レンズに入射する前記レーザビームの強度分布を変化させる駆動手段とを備えていることを特徴とする光ピックアップ装置。

IPC (4件)：

G11B 7/135 ,  G11B 7/00 ,  G11B 7/095 ,  G11B 7/125

FI (4件)：

G11B 7/135 Z ,  G11B 7/00 T ,  G11B 7/095 G ,  G11B 7/125 C