特許
J-GLOBAL ID：200903022098885101
アイ開口の測定方法及び装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
茂泉 修司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-046925
公開番号（公開出願番号）：特開平7-264248
出願日： 1994年03月17日
公開日（公表日）： 1995年10月13日
要約：
【要約】【目的】 ディジタル通信での伝送品質の良さを示す尺度の一つであるアイ開口の測定方法及び装置に関し、短距離あるいは多チャネルのディジタル伝送においてアイ開口測定の効率化および測定時間短縮化を図り、またクロストークによるアイ開口劣化の測定を可能とする。【構成】 被測定系を経由させたパルスパターンデータのアイパターン波形のクロスポイントを検出し、この検出時点から該データのクロック位相及び直流成分をそれぞれ変化させて等誤り率曲線の測定を開始し該直流成分の変化が小さくなって該等誤り率曲線が飽和状態になったと判定したとき終了する。またさらに、非同期データを被測定系に同時に測定対象外チャネルに入力することにより、クロストークによる最悪時のアイ開口劣化を測定する。
請求項（抜粋）：
被測定系(2)を経由させたパルスパターンデータのアイパターン波形のクロスポイントを検出し、この検出時点から該データのクロック位相及び直流成分をそれぞれ変化させて等誤り率曲線の測定を開始し該直流成分の変化が小さくなって該等誤り率曲線が飽和状態になったと判定したとき終了することを特徴としたアイ開口の測定方法。
IPC (3件)：
H04L 25/02 302
, H04L 1/20
, H04L 27/00
