特許

J-GLOBAL ID：200903022104705870

記録装置及びテストパターン記録方法

発明者： 神田 英彦
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (4件)： 大塚 康徳 ,  高柳 司郎 ,  大塚 康弘 ,  木村 秀二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-235801
公開番号（公開出願番号）：特開2004-074510
出願日： 2002年08月13日
公開日（公表日）： 2004年03月11日
要約：

【課題】実際に記録に使用した場合と同じレベルで各記録素子の記録特性のバラツキを確認できる目視確認テストパターンを記録する。【解決手段】複数の記録素子が配列された記録ヘッドを有するシリアル型の記録装置において、各記録素子の記録特性を確認するためのテストパターンを記録する際に、隣接する3つの記録素子を並列に駆動して走査方向に所定の長さを有する直線パターン(パターン1〜パターン10)を、全ての記録素子が少なくとも1つの直線パターンの記録に使用されるように、複数記録する。【選択図】 図11

請求項（抜粋）：

複数の記録素子が配列された記録ヘッドを、記録素子の配列方向と交差する方向に記録媒体上で走査させて記録を行う記録装置であって、 各記録素子の記録特性を確認するためのテストパターンを記録するように指示されたときに、 隣接する複数の記録素子を並列に駆動して記録される前記走査方向に所定の長さを有する直線パターンを複数含み、全ての記録素子が少なくとも1つの直線パターンの記録に使用されるテストパターンを記録するように、前記記録ヘッドの駆動を制御するテストパターン記録手段を備えることを特徴とする記録装置。

IPC (5件)：

B41J2/01 ,  B41J2/05 ,  B41J2/205 ,  B41J29/46 ,  H04N1/23

FI (5件)：

B41J3/04 101Z ,  B41J29/46 A ,  H04N1/23 101Z ,  B41J3/04 103B ,  B41J3/04 103X

Fターム (29件)：

2C056EA06 ,  2C056EB27 ,  2C056EB36 ,  2C056EC74 ,  2C056EC75 ,  2C056ED01 ,  2C056FA03 ,  2C056FA10 ,  2C057AF30 ,  2C057AF39 ,  2C057AG15 ,  2C057AL36 ,  2C057AN01 ,  2C057BA04 ,  2C057BA13 ,  2C057CA01 ,  2C061AP02 ,  2C061AP03 ,  2C061AP04 ,  2C061AQ05 ,  2C061KK13 ,  2C061KK18 ,  5C074AA09 ,  5C074BB16 ,  5C074DD04 ,  5C074DD06 ,  5C074EE04 ,  5C074EE11 ,  5C074GG09