特許
J-GLOBAL ID：200903022118542940
赤外線適格審査及び検査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
石田 敬 (外3名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-532403
公開番号（公開出願番号）：特表2001-509263
出願日： 1998年01月29日
公開日（公表日）： 2001年07月10日
要約：
【要約】一般的に、プリント回路カードを審査するために赤外線検出器を使用した結果の空間的な分解能及び同一条件測定精度は、装置が市場での成功を達成することを満足しないほど劣っている。この問題は、試験されるカード(33)を受け入れるための等温容器(1)と、容器(1)によって区画形成される等温室(32)内の赤外線カメラ(94)と、温度の表示信号を得るためにカード(33)温度と等温室(32)内の雰囲気温度状態とを監視するためのセンサ(109,110)と、試供体(33)の三次元像をもたらす全ての信号を審査するためにカメラ(94)とセンサ(109,110)に接続されて、試供体から試供体への像の変化が試供体の異常を表示するとするコンピュータ(96)とを有する装置によって克服される。
請求項（抜粋）：
赤外線検査及び検出装置であって、 (a)検査される試供体(33)を受け入れるための等温室(32)を区画形成する等温容器手段(1)と、 (b)検査のための試供体(33)を支持するための前記等温室(32)内の支持手段(31)と、 (c)前記試供体からの赤外線放射を監視して前記試供体(33)の全面積温度の表示信号を得るための前記等温室(32)内の赤外線カメラ手段(94)と、 (d)前記試供体の温度と前記等温室(32)内の雰囲気温度状態とを監視して、このような温度の表示信号を得るための前記等温室内の検知手段(109,110)と、 (e)前記試供体(33)の三次元像をもたらすための全ての信号を審査するために前記カメラ手段(94)及び前記検知手段(109,110)へ接続されて、試供体から試供体への像の変化が試供体の異常を示すとするコンピュータ手段(96)、 とを具備する赤外線検査及び検出装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 25/72 G
, G01J 5/48 C
