特許
J-GLOBAL ID:200903022146261115

変異検出のための方法及びキット

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (5件): 熊倉 禎男 ,  小川 信夫 ,  箱田 篤 ,  浅井 賢治 ,  平山 孝二
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-538173
公開番号(公開出願番号):特表2008-517606
出願日: 2005年10月24日
公開日(公表日): 2008年05月29日
要約:
増幅したマイクロサテライト遺伝子座のサイズを予想サイズと比較することによって、DNAの変異を検出する方法及びキットが開示される。前記方法及びキットは、細胞又は生物の変異原への暴露の監視、物質の変異生成能の判定、推定的前癌若しくは癌細胞又は腫瘍細胞のマイクロサテライト不安定性の判定を含む種々の用途に用いることができる。
請求項(抜粋):
以下の工程を含む、変異原への暴露について生物集団又は細胞集団をモニターする方法: (a)前記生物集団又は細胞集団から第一のDNAサンプルを得る工程、ここで前記第一のDNAサンプルは、少なくとも38リピートを有するモノヌクレオチドリピート遺伝子座;1-6bpのY染色体短タンデムリピート;及びAAAAG、AAAAC及びAAAATから成る群から選択される反復ユニットを有するAに富む短タンデムリピートから成る群から選択される少なくとも1つのマイクロサテライト遺伝子座のセットを含み; (b)前記第一のDNAサンプルを、第一のDNA配列及び第二のDNA配列とそれぞれハイブリダイズする第一のプライマー及び第二のプライマーと、前記マイクロサテライト遺伝子座の増幅を可能にする条件下で接触させて第一の増幅生成物を形成する工程、ここで前記第一及び第二のDNA配列は前記マイクロサテライト遺伝子座とフランキングするか又は部分的にオーバーラップし; (c)前記第一の増幅生成物のサイズを決定する工程;及び (d)前記第一の増幅生成物のサイズを前記増幅生成物の予想サイズと比較する工程、ここで前記第一の増幅生成物のサイズと前記増幅生成物の予想サイズとの間の相違は変異原への暴露の指標である。
IPC (8件):
C12N 15/09 ,  C12Q 1/02 ,  C12Q 1/68 ,  C12N 1/15 ,  C12N 1/19 ,  C12N 1/21 ,  C12N 5/10 ,  A01K 67/027
FI (8件):
C12N15/00 A ,  C12Q1/02 ,  C12Q1/68 A ,  C12N1/15 ,  C12N1/19 ,  C12N1/21 ,  C12N5/00 A ,  A01K67/027
Fターム (37件):
4B024AA11 ,  4B024BA07 ,  4B024BA08 ,  4B024BA80 ,  4B024CA01 ,  4B024CA20 ,  4B024HA11 ,  4B063QA01 ,  4B063QA05 ,  4B063QA17 ,  4B063QQ02 ,  4B063QQ08 ,  4B063QQ42 ,  4B063QR32 ,  4B063QR62 ,  4B063QR75 ,  4B063QR77 ,  4B063QR80 ,  4B063QS25 ,  4B063QS36 ,  4B063QS38 ,  4B063QX02 ,  4B065AA01X ,  4B065AA26X ,  4B065AA57X ,  4B065AA72X ,  4B065AA87X ,  4B065AA91Y ,  4B065AB01 ,  4B065BA02 ,  4B065BB12 ,  4B065BB25 ,  4B065BB37 ,  4B065BC03 ,  4B065BC07 ,  4B065BD26 ,  4B065BD45

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