特許

J-GLOBAL ID：200903022209300388

RAKE合成パス検出方式およびRAKE合成パス検出回路

発明者： 阿部 達也
出願人/特許権者： 国際電気株式会社
代理人 (1件)： 石戸 元 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-168602
公開番号（公開出願番号）：特開平11-017649
出願日： 1997年06月25日
公開日（公表日）： 1999年01月22日
要約：

【要約】【課題】 変動する遅延プロファイルに対して常に最適なしきい値を与えてRAKE合成パスを検出するRAKE合成パス検出回路を得る。【解決手段】 逆拡散された受信信号から遅延プロファイルを生成する遅延プロファイル生成回路11と、生成された遅延プロファイルに基づいて、電力の大きさの順に総数でn個の極大点を検出し、各々の検出位置と電力値を出力する極大点検出回路13と、極大点検出回路13から出力された1番目からn番目に大きい極大点の検出位置と電力値を記憶する第2のメモリ14と、極大点検出回路13から出力されたn番目に大きい極大点の電力値と所定値Δとを加算して結果をしきい値として出力する加算器15と、加算器15から出力されたしきい値と、第2のメモリ14に記憶された極大点の電力値とを比較して、しきい値を超えた極大点の検出位置を出力するしきい値判定回路16とを備えてなる。

請求項（抜粋）：

逆拡散された受信信号から得られる遅延プロファイル出力の中からn個の極大点の時間的位置と電力を検出し、該電力の最小値に所定値Δを加算した値より大きい電力を有する極大点の検出位置をRAKE合成に供する有効パスとするよう構成してなるRAKE合成パス検出方式。

IPC (3件)：

H04J 13/00 ,  H04B 7/08 ,  H04B 7/26

FI (3件)：

H04J 13/00 A ,  H04B 7/08 D ,  H04B 7/26 C