波形解析装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-182735
公開番号（公開出願番号）：特開平8-029255
出願日： 1994年07月12日
公開日（公表日）： 1996年02月02日
要約：

【要約】【目的】本発明は、中心波長に対して左右の隣接波長のレベル関係がどのような関係にあるのかを定量的に解析判断できる手段を追加して、より一層被測定光源100の特性解析を的確に簡便に比較判断の向上を計ることを目的とする。【構成】入力波形データの各ピーク点を所定の関数でカーブフィットさせるフィッティング曲線を求める演算手段を設ける構成手段。

請求項（抜粋）：

入力波形データの定量的解析において、入力波形データを所定の関数でカーブフィット(curve fit)させるフィッティング曲線を求める演算手段と、以上を具備していることを特徴とした波形解析装置。

IPC (4件)：

G01J 3/28 , G01R 13/20 , G01R 23/16 , G01R 29/00

引用特許：

審査官引用 (4件)

特開昭63-025521
特開平2-110319
特開昭63-241470

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