照合装置

発明者： , , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：長谷川芳樹 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-295684
公開番号（公開出願番号）：特開平7-146941
出願日： 1993年11月25日
公開日（公表日）： 1995年06月06日
要約：

【要約】【目的】本発明は、入力パターンと参照パターンの一致を高い精度で検出できる照合装置を提供することを目的とする。【構成】入力パターンと参照パターンの相関演算が相関演算手段(30)で行われ、その結果得られる相関値が判定手段(50)に与えられて、入力パターンと参照パターンが同一のパターンであるかが判定される。この判定は、参照パターンを複製して得られる複数の参照パターン間の自己相関強度に応じて定められたしきい値と、相関演算手段(30)で得られた相関値との比較により行われる。

請求項（抜粋）：

新たに入力した入力パターンと既に登録された参照パターンが同一のパターンであるかを判定する照合装置において、前記参照パターンの自己相関演算を行い、その結果得られる自己相関強度に応じたしきい値を定めるしきい値設定手段と、前記入力パターンと前記参照パターンの相関演算を行う相関演算手段と、前記相関演算手段から得られる相関値と前記しきい値設定手段から得られるしきい値を比較して、前記入力パターンと前記参照パターンが同一パターンか判定する判定手段とを備えることを特徴とする照合装置。

IPC (3件)：

G06T 7/00 , G02B 27/46 , G06T 1/00

FI (3件)：

G06F 15/62 460 , G06F 15/64 G , G06F 15/70 460 A

引用特許：

審査官引用 (3件)

特開昭59-144982
特開平4-171510
特開昭58-132872

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