特許

J-GLOBAL ID：200903022309152823

粉塵分析システム

発明者： 笠井 清隆
出願人/特許権者： 理学電機工業株式会社
代理人 (1件)： 杉本 修司 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-164263
公開番号（公開出願番号）：特開2002-357573
出願日： 2001年05月31日
公開日（公表日）： 2002年12月13日
要約：

【要約】【課題】 フィルタ材の交換繁度が少なく、粉塵の測定結果をリアルタイムに得ることができる粉塵分析システムを提供する。【解決手段】 粉塵を含むガスの通路に臨んで配置され、前記粉塵を付着させるフィルタ材2と、前記フィルタ材2をその長手方向に間欠的に付着位置へ送ってフィルタ材2の一部分からなる付着領域aを前記通路に所定時間臨ませる送り装置7と、前記付着位置Aよりも送り方向の下流側に送られた付着領域に1次X線を照射して、この付着領域に付着した粉塵のX線分析を行うX線分析装置6を備えた。

請求項（抜粋）：

粉塵を含むガスの通路に臨んで配置され、前記粉塵を付着させる長尺のフィルタ材と、前記長尺のフィルタ材をその長手方向に間欠的に付着位置へ送ってフィルタ材の一部分からなる付着領域を前記通路に所定時間臨ませる送り装置と、前記付着位置よりも送り方向の下流側に送られた前記付着領域に1次X線を照射して、この付着領域に付着した粉塵のX線分析を行うX線分析装置と、を備えた粉塵分析システム。

IPC (3件)：

G01N 23/223 ,  G01N 1/02 ,  G01N 15/06

FI (3件)：

G01N 23/223 ,  G01N 1/02 G ,  G01N 15/06 D

Fターム (24件)：

2G001AA01 ,  2G001BA04 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001EA01 ,  2G001EA03 ,  2G001GA01 ,  2G001JA16 ,  2G001KA00 ,  2G001LA20 ,  2G001MA04 ,  2G001RA10 ,  2G001RA20 ,  2G052AA01 ,  2G052AA02 ,  2G052AA04 ,  2G052AC02 ,  2G052AC12 ,  2G052AD04 ,  2G052AD52 ,  2G052BA22 ,  2G052CA04 ,  2G052EA03 ,  2G052GA19