特許
J-GLOBAL ID：200903022318952344

CAD用解析結果データ処理装置及びCAD用解析結果データ処理方法並びにCAD用解析結果データ処理プログラム

発明者：
出口 全平

出口 全平 について


出願人/特許権者：
富士通株式会社

富士通株式会社 について


代理人 (1件)： 石戸 久子 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-090141
公開番号（公開出願番号）：特開2003-288372
出願日： 2002年03月28日
公開日（公表日）： 2003年10月10日
要約：
【要約】【課題】 解析シミュレーションの解析結果データから、簡単な機構で自動的にCADでの処理に必要な情報を取得することができ、且つ取り扱うデータの軽量化を図ることができるCAD用解析結果データ処理装置及びCAD用解析結果データ処理方法並びにCAD用解析結果データ処理プログラムを提供する。【解決手段】 3次元形状を有する対象物を複数の要素に分割して所定の物理量の解析を行う解析シミュレーションの解析結果データを取得し、該取得された解析結果データに基づき、複数の要素を構成する面から、対象物の外形状を構成する面のみを抽出し、更に該取得された解析結果データに基づき、抽出された面を構成する節点について、対象物の解析シミュレーションによる変形後の座標を取得する。
請求項（抜粋）：
3次元形状を有する対象物を複数の要素に分割して所定の物理量の解析を行う解析シミュレーションの解析結果データを取得する解析結果データ取得手段と、前記解析結果データ取得手段により取得された解析結果データに基づき、前記複数の要素を構成する面から、前記対象物の外形状を構成する面を抽出する抽出手段と、前記解析結果データ取得手段により取得された解析結果データに基づき、前記抽出手段により抽出された面を構成する節点について、前記対象物の前記解析シミュレーションによる変形後の座標を取得する座標取得手段とを備えたことを特徴とするCAD用解析結果データ処理装置。
IPC (2件)：
G06F 17/50 612 ,  G06F 17/50 626
FI (2件)：
G06F 17/50 612 C ,  G06F 17/50 626 A
Fターム (4件)：
5B046FA04 ,  5B046FA16 ,  5B046JA07 ,  5B046KA05
引用特許：
審査官引用 (4件)
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