特許
J-GLOBAL ID:200903022329703818

静電泳動粒子のプロファイリングシステム及び方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 恩田 博宣 ,  恩田 誠
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-560251
公開番号(公開出願番号):特表2006-510020
出願日: 2002年12月12日
公開日(公表日): 2006年03月23日
要約:
静電泳動解析を粒子集団に対して実施するシステムであって、このシステムは、壁を有するチャンバー(150)と、チャンバーの壁の上に配置される複数の電極と、複数の周波数のAC電圧を複数の電極に印加するように構成される関数発生器(140)と、チャンバー内に配置されるサンプルの画像を取得するように構成される検出器(120)と、そして検出器(120)と電気的に接続される電子制御装置(130)と、を備える。
請求項(抜粋):
流体中に懸濁する一つ以上の粒子を含む、チャンバー内の媒体に、複数の周波数の電界を連続して印加する工程と、 AC電界を印加しながらチャンバー内の一つ以上の粒子の位置を追跡する工程と、 各電界周波数で、一つ以上の追跡粒子の前記位置からのそれぞれの速度を算出する工程と、 算出速度から一つ以上の粒子の特性を求める工程と、 からなる方法。
IPC (2件):
G01N 27/447 ,  G01N 15/10
FI (2件):
G01N27/26 331Z ,  G01N15/10 A

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