特許
J-GLOBAL ID：200903022346655932
信号測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
伊東 忠彦 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-335204
公開番号（公開出願番号）：特開平5-164788
出願日： 1991年12月18日
公開日（公表日）： 1993年06月29日
要約：
【要約】【目的】 本発明は電気光学効果を利用して被測定部の電圧信号を測定する信号測定装置に関し、測定精度の向上及び検出系の負担軽減を目的とする。【構成】 光反射電極22で反射されたレーザ光は電気光学結晶21,ガラス板23,スキャナ32及びビームスプリッタ31を経て光変調器33に入射される。光変調器33はビームスプリッタ33からのレーザ光を変調し、互いに直交する直線偏光成分の強度が互いに略等しくなるようにする。光変調器33への制御信号は予め測定点毎に測定しておいた信号であり、制御装置39から光変調器33へ入力される。
請求項（抜粋）：
被測定部(11)からの電圧を電気光学結晶(12)の測定点に印加した状態で該電気光学結晶(12)を透過又は反射往復する光ビームの偏光状態の変化を偏光解析器(13)で検出することにより、前記被測定部(11)からの電圧を測定する信号測定装置において、前記偏光解析器(13)の入射光路中に設けられた光変調器(14)と、該光変調器(14)を通して前記偏光解析器(13)へ入射される光ビームの直交成分が互いに略等しくなるように、予め測定点毎に測定しておいた制御信号を該光変調器(14)に入力する制御手段(15)とを有することを特徴とする信号測定装置。
IPC (2件)：
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