特許
J-GLOBAL ID：200903022358361110
X線回折分析用試料ホルダー
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高橋 勇
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-078247
公開番号（公開出願番号）：特開平8-247969
出願日： 1995年03月09日
公開日（公表日）： 1996年09月27日
要約：
【要約】【目的】 基準面となる試料ホルダーの上面に対して、試料上面を正確に同一平面上に一致させることが容易にできると共に、精度の高い分析結果を得ることができる、X線回折分析用試料ホルダーを提供する。【構成】 内周面に雌ネジ5が形成された試料収容孔4が、表裏面に貫通して設けられた試料ホルダー本体2と、外周面に前記雌ネジ5に螺合される雄ネジ8が形成された試料保持体6とを備えている。試料保持体6の一側の端面は、試料収容孔4内で試料を固定する、試料固定面7となっている。試料保持体6の他側の端面には、工具差込溝9が形成されており、ドライバー等の工具によって、試料ホルダー2の試料収容孔4との螺合位置を調整し、試料ホルダー本体2の上面と、試料11の上面とが、同一平面上に位置するようにする。
請求項（抜粋）：
内周面に雌ネジが形成された試料収容孔が、表側の基準面と裏側の面との間に貫通して設けられた試料ホルダー本体と、外周面に前記雌ネジに螺合される雄ネジが形成された試料保持体とを備え、前記試料ホルダー本体の基準面に臨む側の、前記試料保持体の端面は、前記試料収容孔内で試料を固定する試料固定面として形成されているとともに、他側の端面には、試料ホルダーの試料収容孔との螺合位置を調整するための、工具差込溝が形成されていることを特徴とするX線回折分析用試料ホルダー。
IPC (2件)：
FI (2件)：
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