特許
J-GLOBAL ID：200903022389910278
ミリ波帯での誘電率測定方法及び測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-372729
公開番号（公開出願番号）：特開2000-193608
出願日： 1998年12月28日
公開日（公表日）： 2000年07月14日
要約：
【要約】【目的】高価な測定機器であるネットワークアナライザを必要とせず、さらに、金属平板による反射係数の振幅の基準を測定を不要として、安価にまた簡易に試料の誘電率を測定できる方法及び装置を提供することを技術的課題とする。【構成】ミリ波帯にある電磁波を発振するミリ波源1、ミリ波を直線偏波にする偏波器2、被測定試料3、反射したミリ波を検出する検出器4、検出器をミリ波の軸上に回転させるモータ5、演算装置6に制御されながらモータを駆動するモータドライバー7、検出器4からの信号を増幅し演算装置に伝達するプリアンプ8から構成される。
請求項（抜粋）：
自由空間法により誘電体からなる被測定試料のミリ波帯での誘電率を測定する方法において、被測定試料にミリ波帯にある電磁波を照射した時の、被測定試料によるTE波の反射係数とTM波の反射係数との比を求め、この被測定試料によるTE波の反射係数とTM波の反射係数との比から被測定試料の誘電率を導出することを特徴とするミリ波帯での誘電率測定方法。
FI (4件)：
G01N 22/00 Y
, G01N 22/00 P
, G01N 22/00 R
, G01N 22/00 S
