特許
J-GLOBAL ID：200903022459919235
ATMコネクション試験装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
遠山 勉 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-060499
公開番号（公開出願番号）：特開平8-265325
出願日： 1995年03月20日
公開日（公表日）： 1996年10月11日
要約：
【要約】【目的】 ATMコネクションの障害箇所を容易に特定できると共に、試験結果を容易に確認できるATMコネクション試験装置を提供することを目的とする。【構成】 ATMセルの通信パスであるATMコネクションの途中に、下記の(イ)〜(ロ)を有する装置を複数設けて構成した。(イ)ATMセルを入力するATMセル入力部。(ロ)ATMセル入力部に入力されたATMセルのうち、有効なATMセルを計数するATMセル計数部。(ハ)ATMセル計数部で計数された値を表示する表示部。
請求項（抜粋）：
ATMセルの通信パスであるATMコネクションの途中に複数設けられ、前記ATMコネクションの導通・品質を試験するATMコネクション試験装置であって、前記ATMセルを入力するATMセル入力部と、前記ATMセル入力部に入力されたATMセルのうち、有効なATMセルを計数するATMセル計数部と、前記ATMセル計数部で計数された値を表示する表示部とを備えたことを特徴とするATMコネクション試験装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
H04L 11/20 D
, H04L 11/12
