特許
J-GLOBAL ID：200903022514028752
変位量測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
長谷川 芳樹 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-044209
公開番号（公開出願番号）：特開平7-253314
出願日： 1994年03月15日
公開日（公表日）： 1995年10月03日
要約：
【要約】【目的】 測定対象物の測定変位量や速度の許容範囲を広げることにある。【構成】 変位量測定装置の二重露光装置10は、高速シャッタ機能を有するイメージインテンシファイアを用いる。また、蛍光面13の蛍光寿命を利用して、移動物体の二重露光像を蛍光面13上に形成する。この二重露光像を、相関演算装置20において光学的にフーリエ変換して相関ピーク像を得る。変位量演算装置32では、この相関ピーク像から移動物体の変位量等を求める。
請求項（抜粋）：
移動物体の変位量を測定する変位量測定装置であって、移動物体からの光が入射する光電面と、この光電面から放出された光電子の像を光の像に変換する蛍光面とを備え、この蛍光面上に前記移動物体の像を一定時間蓄積し、この移動物体の二重露光像を形成する二重露光部と、前記光電面に対する印加電圧を制御し、前記蛍光面における二重露光の時間間隔及び各露光の露光時間を制御する制御部と、前記二重露光部から出力される前記移動物体の二重露光像を、フーリエ変換し、相関ピーク像を得る相関演算部と、前記相関演算部から得られる相関ピーク像を検出し、前記二重露光像の変位量を求める変位量演算部と、を備える変位量測定装置。
IPC (2件)：
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