特許

J-GLOBAL ID：200903022553906210

非接触型外形測定装置

発明者： 秋柴 雄二
出願人/特許権者： 株式会社キーエンス
代理人 (1件)： 松本 直己
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-309944
公開番号（公開出願番号）：特開2002-116013
出願日： 2000年10月10日
公開日（公表日）： 2002年04月19日
要約：

【要約】【課題】 テレセントリック光学系を用いる方式の非接触型外形測定装置において、測定対象物の測定部位を容易に特定できるようにする。【解決手段】 光源11からの光を略平行光にするコリメータレンズ13と、略平行光の一部を遮るように置かれた測定対象物23の影24を含む略平行光を受光する受光レンズ14と、受光レンズ14の後側焦点位置に配置された絞り15と、絞り15を通過した光を受光する一次元イメージセンサ17と、一次元イメージセンサ17から得られる電気信号を処理することにより、測定対象物23の外形寸法を求める信号処理部20と、求められた外形寸法を表示する表示部21とを備えている。更に、受光レンズ14と絞り15との間に配置されたビームスプリッタ16で分けられた光を第2の絞り18を通して二次元イメージセンサ19で受光し、信号処理部20は、二次元イメージセンサ19で得られた測定対象物の測定部位を含むモニタ映像を表示部21に表示させる。

請求項（抜粋）：

光源からの光を光軸に平行な成分を含む光に変換する手段と、前記光の一部を遮るように置かれた測定対象物の影を含む光を受光する受光レンズと、該受光レンズの後側焦点位置に配置された絞りと、該絞りを通過した光を受光する一次元イメージセンサと、該一次元イメージセンサから得られる電気信号を処理することにより、前記測定対象物の影の寸法を前記測定対象物の外形寸法として求める信号処理部と、求められた外形寸法を表示する表示部とを備えた非接触型外形測定装置において、前記受光レンズと前記一次元イメージセンサとの間の光路上に配置されたビームスプリッタと、該ビームスプリッタで分けられた光を受光する二次元イメージセンサとを更に備え、前記信号処理部は、前記二次元イメージセンサで得られた電気信号を処理することにより、前記測定対象物の測定部位を含むモニタ映像を前記表示部に表示させることを特徴とする非接触型外形測定装置。

IPC (2件)：

G01B 11/24 ,  G01B 11/02

FI (2件)：

G01B 11/02 H ,  G01B 11/24 A

Fターム (15件)：

2F065AA52 ,  2F065BB05 ,  2F065DD03 ,  2F065DD06 ,  2F065FF02 ,  2F065GG07 ,  2F065HH03 ,  2F065JJ25 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL04 ,  2F065LL30 ,  2F065LL49 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ30 ,  2F065QQ31

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平2-095204
  
• 距離測定可能な内視鏡
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-109394   出願人：富士写真フイルム株式会社
• 特開平2-067905
  
• 外径測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-134073   出願人：株式会社キーエンス