特許

J-GLOBAL ID：200903022642533150

周波数発生方法及び回路

発明者： セオドア・ジー・ネルソン ,  ゲイリー・エム・ジョンソン
出願人/特許権者： テクトロニクス・インコーポレイテッド
代理人 (1件)： 山口 邦夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-247262
公開番号（公開出願番号）：特開平11-154826
出願日： 1998年09月01日
公開日（公表日）： 1999年06月08日
要約：

【要約】【課題】 周波数の温度安定性の良い信号を安価な構成で発生する。【解決手段】 発振器12は第1信号を発生し、発振器14は発振器12よりも温度依存性があり第1信号よりも高い周波数の第2信号を発生する。校正モジュール16は、第1信号の発振周波数を基準温度における基準信号の発振周波数に関連付ける校正係数F1を求める。また、同一の期間にわたる第1及び第2信号の発振数を計数し、これら計数値を比較して校正係数F2を求める。F1及びF2を乗算して総合校正係数Fcalを求める。Fcalにより第2信号の周波数を校正する。

請求項（抜粋）：

第1温度依存性を有する第1周波数の第1信号を発生する第1発振器と、上記第1温度依存性よりも実質的に高い第2温度依存性を有し上記第1周波数よりも高い第2周波数の第2信号を発生する第2発振器とを具えたデジタル信号測定装置において、基準温度にて、実質的に同一の期間にわたって、基準信号の第1発振数及び上記第1信号の第2発振数を計数し、上記第1発振数及び上記第2発振数を比較して第1校正係数を求め、動作温度にて、実質的に同一の期間にわたって上記第1信号の第3発振数及び上記第2信号の第4発振数を計数し、上記第3発振数及び上記第4発振数を比較して第2校正係数を求め、上記第1校正係数及び上記第2校正係数を比較して、上記動作温度における上記第2信号の発振数を上記基準信号の対応発振数に関連付けて上記第2信号の周波数を校正し、温度に対して安定した周波数を発生する周波数発生方法。

IPC (4件)：

H03B 5/32 ,  G01R 15/12 ,  G01R 35/00 ,  H03L 1/02

FI (4件)：

H03B 5/32 A ,  G01R 15/12 Z ,  G01R 35/00 A ,  H03L 1/02