特許

J-GLOBAL ID：200903022656142994

品質検査装置

発明者： 金川 正人 ,  青木 孝典 ,  李 銀会 ,  氷上 好孝
出願人/特許権者： ダックエンジニアリング株式会社
代理人 (1件)： 柳野 隆生
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-228326
公開番号（公開出願番号）：特開2000-055826
出願日： 1998年08月12日
公開日（公表日）： 2000年02月25日
要約：

【要約】【課題】 検査面へ低い傾斜角度で光入射するように明視野用光源を配置し、検査面の明視野像を得るように撮像カメラを配置しつつも、コンパクト設計が可能であり、撮像カメラの光軸の微調整などが不要であるため簡易な製造工程と低コスト化とが可能な品質検査装置を提供することを目的とする。【解決手段】 本発明は、光源2の出射光10が連続シート9の検査面へ向けて1 ゚〜30 ゚の傾斜角度で入射し該検査面で反射した反射光11を撮像カメラ5へ案内し、この撮像カメラ5に検査面の明視野像を与える反射鏡3を備えることを特徴としている。

請求項（抜粋）：

被検査物の検査面を照射する単または複数の光源と、該検査面の反射光を案内する光学系と、該光学系の結像面に設けられた撮像手段と、該撮像手段によって撮像された反射像の光強度分布をもとに前記検査面の品質を判定する判定手段とを備えた品質検査装置であって、前記光源の出射光が検査面へ向けて1 ゚〜30 ゚の傾斜角度で入射し該検査面で反射した反射光を撮像手段へ案内し、該撮像手段に検査面の明視野像を与える単または複数の反射鏡を備えることを特徴とする品質検査装置。

IPC (3件)：

G01N 21/89 ,  B41F 33/14 ,  G06T 7/00

FI (3件)：

G01N 21/89 A ,  B41F 33/14 G ,  G06F 15/62 410 A

Fターム (30件)：

2C250EA02 ,  2C250EA12 ,  2C250EB32 ,  2C250EB43 ,  2C250EC01 ,  2G051AA34 ,  2G051AA41 ,  2G051AA51 ,  2G051AB02 ,  2G051AB07 ,  2G051AC21 ,  2G051BA01 ,  2G051BA10 ,  2G051BB01 ,  2G051CA03 ,  2G051CB01 ,  2G051CC11 ,  2G051DA06 ,  2G051DA07 ,  2G051EA16 ,  2G051EB01 ,  5B057AA03 ,  5B057AA11 ,  5B057BA15 ,  5B057BA17 ,  5B057DA03 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5B057DC22 ,  5B057DC36