特許
J-GLOBAL ID：200903022693475332
透過型電子顕微鏡用試料の作製方法及び試料染色用 装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
久保田 耕平 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-094847
公開番号（公開出願番号）：特開平6-288882
出願日： 1993年03月31日
公開日（公表日）： 1994年10月18日
要約：
【要約】【構成】ポリマー材料から、ミクロトーム(試料の薄片化装置)にセットできる形状の試料ブロックを作製し、その試料ブロックを加熱状態で染色し、その後にミクロトームで薄片化して透過型電子顕微鏡用試料を作製する。【効果】試料ブロックのままTEM観察用試料を染色するので、試料ブロックが硬化し、ミクロトームによる切削が可能となり容易に薄片化できる。また加熱染色をするので染色時間が短くて済み、TEM観察用試料を作製する時間を短縮でき、作業能率を向上できる。更に染色を自在に組み合わせることが可能となり、従来観察できなかったポリマー材料の微細構造が観察できる。
請求項（抜粋）：
ポリマー材料から、ミクロトーム(試料の薄片化装置)にセットできる形状の試料ブロックを作製した後に、上記試料ブロックに、一つまたは複数の染色剤を個別に作用させて、染色を行ない、その後に、上記染色された試料ブロックを上記ミクロトームで、薄片化して透過型電子顕微鏡用試料を作製する方法において、上記試料ブロックの染色のうち、少なくとも一つの染色を、加熱状態で行なうことを特徴とする透過型電子顕微鏡用試料の作製方法。
IPC (2件)：
前のページに戻る
