特許
J-GLOBAL ID:200903022717713515

遠隔測定可能な分光分析装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 大塚 学
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-174661
公開番号(公開出願番号):特開平7-012721
出願日: 1993年06月23日
公開日(公表日): 1995年01月17日
要約:
【要約】【目的】分析用光源に高輝度で発光スペクトル幅の広いインコヒーレント光光源を使用し、複数の低濃度の物質も同時に分析が可能でインラインモニタ等にも応用可能な信頼性・保守性・経済性に優れた遠隔測定可能な分光分析装置を提供する。【構成】導波構造を有しインコヒーレントな試料光を放出する分光分析用光源と、該試料光と内部に導入された分析対象物質とを相互作用させ相互作用した信号光を送出する導波機能を有する分光分析用セルと、該信号光を分析し計測する計測部と、該分光分析用光源から放出された試料光を該分光分析用セルに伝送する第1の光ファイバと、該分光分析用セルから送出する信号光を該計測部に伝送する第2の光ファイバとを備えた構成を有する。
請求項(抜粋):
導波構造を有しインコヒーレントな試料光を放出する分光分析用光源と、該試料光と内部に導入された分析対象物質とを相互作用させその相互作用した信号光を送出する導波機能を有する分光分析用セルと、該信号光を分析し計測する計測部と、該分光分析用光源から放出された試料光を該分光分析用セルに伝送する第1の光ファイバと、該分光分析用セルから送出する信号光を該計測部に伝送する第2の光ファイバとを備えた遠隔測定可能な分光分析装置。

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