特許

J-GLOBAL ID：200903022816896621

脱離金属の測定装置

発明者： 山田 裕司 ,  冨田 寛 ,  竹中 みゆき
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 外川 英明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-075626
公開番号（公開出願番号）：特開平9-264891
出願日： 1996年03月29日
公開日（公表日）： 1997年10月07日
要約：

【要約】【課題】 本発明は、従来困難であった酸化性雰囲気中での材料からの金属脱離特性を評価する方法を提供することを目的とする。【解決手段】 酸素ボンベ5から石英製の密閉容器9に酸素ガスを導入しつつ、密閉容器9内を酸素雰囲気下にした状態で密閉容器9内に配置される固体試料3を加熱手段11によって加熱することで固体試料3中の脱離金属を脱離することが可能になり、酸素中に含まれる脱離金属を検出手段7で検出することで脱離金属の測定を行う。

請求項（抜粋）：

セラミック、ガラスおよび白金族金属の少なくとも1種からなる金属不純物を含有する試料を載置できる容器と、前記容器内に所望のガスを導入するガス導入手段と、前記試料中に含まれる金属元素を脱離するように前記試料を加熱する加熱手段と、前記試料から脱離した前記金属元素を検出する検出手段とを有することを特徴とする脱離金属の測定装置。

IPC (4件)：

G01N 31/00 ,  G01N 1/28 ,  G01N 21/31 ,  G01N 21/73

FI (4件)：

G01N 31/00 Y ,  G01N 21/31 A ,  G01N 21/73 ,  G01N 1/28 K