特許
J-GLOBAL ID：200903022822245160
材料ひずみ計測装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-153657
公開番号（公開出願番号）：特開平7-012528
出願日： 1993年06月24日
公開日（公表日）： 1995年01月17日
要約：
【要約】【目的】試験材料の伸び計測と、試験材料の局所のひずみ計測とを同時に行うことが可能な材料ひずみ計測装置を提供することにある。【構成】試験材料8の伸びを計測するとともに試験材料8の伸びに伴って少なくとも一部を変位させる伸び測定系2と、試験材料8の所定の測定位置にレ-ザ光20を照射して測定位置のひずみを測定するとともに伸び測定系2に追従して変位しレ-ザ光20を移動させるひずみ測定系3とを具備した。
請求項（抜粋）：
試験材料の伸びを計測するとともに上記試験材料の伸びに伴って少なくとも一部を変位させる伸び測定系と、上記試験材料の所定の測定位置に測定光を照射して上記測定位置のひずみを測定するとともに上記伸び測定系に追従して変位し上記測定光を移動させるひずみ測定系とを具備した材料ひずみ計測装置。
IPC (2件)：
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