特許
J-GLOBAL ID：200903022876766514
旋光度測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
早瀬 憲一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-213145
公開番号（公開出願番号）：特開2000-046732
出願日： 1998年07月28日
公開日（公表日）： 2000年02月18日
要約：
【要約】【課題】 溶液中の旋光性物質の濃度を測定する旋光度測定装置において、被検試料を採取した後の環境温度や経過時間に影響されず、精度良く旋光度を測定することを目的とする。【解決手段】 被検試料に偏光した光を透過させるとともに、その被検試料に磁場を印加し、その結果生じる光の偏光方向の変化に基づき、被検試料の旋光度を測定する旋光度測定方法の装置において、サーミスタ13等の温度測定手段により、被検試料の温度を測定し、設定温度より低い場合は電流を印加し、設定温度よりも高い場合は電流を印加しないように制御し、被検試料を設定温度の範囲内に維持し、旋光度の測定を行う。
請求項（抜粋）：
被験試料に対し偏光した光を入射させるとともに、その被験試料に磁場を印加し、これにより生じる光の偏光方向の変化に基づき、被験試料の旋光度を測定する旋光度測定装置において、被験試料に磁場を印加するソレノイドコイルと、被験試料の温度を測定する温度測定手段とを備え、被験試料の温度が予め設定した第1の温度以下の時は、ソレノイドコイルに電流を流して旋光度の測定を待機し、被験試料の温度が第1の温度を越えた後に、旋光度の測定を行い、被験試料の温度が第1の温度より高い、予め設定した第2の温度以上となった時は、ソレノイドコイルに電流を流さずに旋光度の測定を待機し、第2の温度を下回った後に旋光度の計測を行うことを特徴とする旋光度測定装置。
Fターム (12件)：
2G059AA01
, 2G059BB04
, 2G059EE05
, 2G059GG01
, 2G059JJ11
, 2G059JJ19
, 2G059KK01
, 2G059MM01
, 2G059MM14
, 2G059MM17
, 2G059NN02
, 2G059PP04
