特許
J-GLOBAL ID:200903022944865607
粒子操作方法及び装置、並びにこれを用いた測定装置
発明者:
,
,
,
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
丸島 儀一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-344578
公開番号(公開出願番号):特開平5-296914
出願日: 1992年12月24日
公開日(公表日): 1993年11月12日
要約:
【要約】【目的】 簡単な手法にて媒質中の粒子を操作すること。【構成】 流通路2に微粒子が浮遊する液体の流れを形成して微粒子を移動させる。この流れに対してレーザ光源5から強度勾配を持った光を集光照射すると、照射位置8に微粒子が光学トラップされて流れに抗して静止する。制御回路7によって光照射のオン・オフの時間間隔を適切に設定することにより、照射位置8の後方での粒子の流れに所望の移動間隔を与えることができる。
請求項(抜粋):
移動する粒子を光学的に制動することによって粒子を操作することを特徴とする粒子操作方法。
IPC (2件):
G01N 15/14
, G01N 1/00 101
引用特許:
審査官引用 (4件)
-
特開平2-091545
-
特開平4-036637
-
特開平3-295464
前のページに戻る