特許
J-GLOBAL ID:200903022947842020

アルミニウムイオン性検体のスポットテスト法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 長谷川 曉司
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-012580
公開番号(公開出願番号):特開平9-203730
出願日: 1996年01月29日
公開日(公表日): 1997年08月05日
要約:
【要約】【解決手段】 アルミニウム性検体と錯体を形成し得る呈色剤を試料液に添加し、次いで当該試料液を薄層クロマトグラフィーの薄層上に滴下し、得られる液滴を蒸発、濃縮した後、展開溶媒で展開し、試料液滴下所のアルミニウムイオン錯体の蛍光を測定することを特徴とするアルミニウムイオン性検体のスポットテスト法。【効果】 本発明により、アルミニウムのみを選択的に短時間で分離することができ、ppbレベルでの高感度簡易計測方法が提供される。
請求項(抜粋):
アルミニウム性検体と錯体を形成し得る呈色剤を試料液に添加し、次いで当該試料液を薄層クロマトグラフィーの薄層上に滴下し、得られる液滴を蒸発、濃縮した後、展開溶媒で展開し、試料液滴下箇所のアルミニウムイオン錯体の蛍光を測定することを特徴とするアルミニウムイオン性検体のスポットテスト法。
IPC (4件):
G01N 30/95 ,  G01N 21/78 ,  G01N 31/00 ,  G01N 31/22 122
FI (4件):
G01N 30/95 A ,  G01N 21/78 C ,  G01N 31/00 T ,  G01N 31/22 122

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