特許
J-GLOBAL ID：200903023112133092
蛍光顕微鏡評価方法および装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
長谷川 芳樹 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-353136
公開番号（公開出願番号）：特開平11-183381
出願日： 1997年12月22日
公開日（公表日）： 1999年07月09日
要約：
【要約】【課題】 容易かつ高精度に蛍光顕微鏡の蛍光検出性能を評価することができる蛍光顕微鏡評価方法および装置を提供する。【解決手段】 蛍光顕微鏡10において、励起光源11から出力された励起光は被測定対象物21に照射され、被測定対象物21に含まれる蛍光性繊維から発生した蛍光は対物レンズ14および第2対物レンズ16等を経て蛍光顕微鏡評価装置30のピンホール31の開口の位置に結像される。ミラー32が待避しているときには、蛍光の強度が光検出器34およびカウンタ35により検出される、ミラー32が光路上に有るときには、蛍光の像がカメラ37により撮像され、蛍光性繊維の長さが画像解析部39により求められる。演算部40により、蛍光強度と蛍光性繊維の長さとに基づいて蛍光顕微鏡10の蛍光検出性能が評価される。
請求項（抜粋）：
蛍光顕微鏡の蛍光検出性能を評価する蛍光顕微鏡評価方法であって、単位長さ当たりに存在する蛍光分子の数が一定であって前記蛍光顕微鏡の観察視野内に置かれた蛍光性繊維から発生した蛍光の強度を前記蛍光顕微鏡の光学系を介して検出し、前記蛍光性繊維の像を前記蛍光顕微鏡の光学系を介して撮像し、その像に基づいて前記蛍光性繊維の長さを求め、前記蛍光の強度および前記蛍光性繊維の長さに基づいて前記蛍光顕微鏡の蛍光検出性能を評価する、ことを特徴とする蛍光顕微鏡評価方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 21/64 E
, G02B 21/00
