特許
J-GLOBAL ID：200903023120311927
電池端子の位置ずれ検査法および検査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
須山 佐一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-265616
公開番号（公開出願番号）：特開平8-130002
出願日： 1994年10月28日
公開日（公表日）： 1996年05月21日
要約：
【要約】 (修正有)【目的】 煩雑な操作なども要せずに容易、かつ高精度に板状封口体に対する正極金属端子の位置ずれを検査し得る方法および装置を提供する。【構成】 電池端子部5を載置する基台11と、前記基台11に沿って配置され、電池端子部5の正極金属端子5bの貫挿・突出面側にほぼ一様な明るさの光を照射する照射光源12の光照射による板状封口体上面の反射画像を撮像する撮像手段13と、前記撮像手段13による撮像データを明暗として2値化する処理手段、2値化処理された明部もしくは暗部から正極金属端子の中心点を求め中心位置を設定して正極金属端子上の区域に領域を指定する手段、および前記指定領域の明部もしくは暗部を再度2値化処理して、指定領域の明部もしくは暗部をの面積を算出するとともに、予め内蔵させてある基準状態における指定領域の明部もしくは暗部の面積と比較して良否を区分化する手段を備えた画像処理装置16とコントローラ18とを具備する。
請求項（抜粋）：
板状封口体を貫挿・突出した電池の正極金属端子を有する電池端子部の前記正極金属端子の位置ずれ検査法であって、前記正極金属端子の貫挿・突出した板状封口体面に、ほぼ一様な明るさの光を照射する工程と、前記光照射による反射画像データを明暗として2値化処理する工程と、前記2値化処理した明部もしくは暗部から正極金属端子の中心点を求め中心位置を設定する工程と、前記設定した中心位置を基準にして、正極金属端子上の区域に領域を指定する工程と、前記区域指定領域の反射画像データを再度、明暗として2値化処理する工程と、 前記2値化処理した指定領域の明部もしくは暗部の面積を算出し、基準状態における指定領域の明部もしくは暗部の面積と比較して位置ずれを検査する工程とを具備して成ることを特徴とするする電池端子の位置ずれ検査法。
IPC (5件)：
H01M 2/30
, G01B 11/00
, G06T 7/00
, G06T 7/60
, H01M 6/02
G06F 15/62 400
, G06F 15/70 355
