特許

J-GLOBAL ID：200903023124767461

電子部品の導通試験装置

発明者： 大原 秀樹
出願人/特許権者： 株式会社アドバンテスト
代理人 (1件)： 前田 均 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-209632
公開番号（公開出願番号）：特開2000-046898
出願日： 1998年07月24日
公開日（公表日）： 2000年02月18日
要約：

【要約】【課題】被試験IC用ソケットボードの汎用性に優れた電子部品の導通試験装置を提供する。【解決手段】被試験ICの全ての端子に電気的に接続される複数の端子を有するソケットボード51と、ソケットボードの全ての端子にそれぞれ電気的に接続されるマトリックススキャナ521と、マトリックススキャナに電流を供給する電源522と、マトリックススキャナの両極間の電圧を検出する電圧検出器524と、マトリックススキャナの測定チャンネルを切り替え制御するCPU523とを備える。

請求項（抜粋）：

被試験ICの電源端子および/または接地端子それぞれの導通状態をテストする電子部品の導通試験装置において、少なくとも被試験ICの全ての端子に電気的に接続される複数の端子を有するソケットボードと、前記ソケットボードの全ての端子にそれぞれ電気的に接続されるマトリックススキャナと、前記マトリックススキャナに電流を供給する電源と、前記マトリックススキャナの両極間の電圧を検出する電圧検出器と、前記マトリックススキャナの測定チャンネルを切り替え制御する制御手段とを備えたことを特徴とする電子部品の導通試験装置。

IPC (2件)：

G01R 31/26 ,  G01R 31/02

FI (2件)：

G01R 31/26 G ,  G01R 31/02

Fターム (7件)：

2G003AA07 ,  2G003AB18 ,  2G003AG01 ,  2G003AG08 ,  2G003AG17 ,  2G014AA13 ,  2G014AB59