特許
J-GLOBAL ID：200903023128372615
測距装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
韮澤 弘 (外7名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-121636
公開番号（公開出願番号）：特開平9-304054
出願日： 1996年05月16日
公開日（公表日）： 1997年11月28日
要約：
【要約】【課題】 コスト高や大型化を招くことなく、光量ロスの少ない、中抜けのない多点測距の実現、また、パララックスのない測距装置の実現。【解決手段】 発光素子1からの光を投光レンズ系2を通して物体に投影し、その反射光を受光レンズ系を通して光電変換素子上に結像し、その出力信号から物体までの距離を検知する測距装置において、投光レンズ系2の一部に異なる結像位置を持つ複数の回折パターン7〜9を形成し、投光光束を分割して、多点測距、パララックスのない測距装置を実現する。
請求項（抜粋）：
発光素子からの光を投光レンズ系を通して物体に投影し、その反射光を受光レンズ系を通して光電変換素子上に結像し、その出力信号から物体までの距離を検知する測距装置において、投光レンズ系の一部にレンズ作用を有する回折パターンを形成し、投光光束を分割することを特徴とする測距装置。
IPC (4件)：
G01C 3/06
, G02B 7/32
, G02B 7/34
, G03B 13/36
G01C 3/06 A
, G02B 7/11 B
, G02B 7/11 C
, G03B 3/00 A
