特許

J-GLOBAL ID：200903023138869410

多波長蛍光偏光法

発明者： 中山 浩 ,  北脇 文久 ,  宮崎 仁誠
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 山本 秀策
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-189512
公開番号（公開出願番号）：特開2000-019172
出願日： 1998年07月03日
公開日（公表日）： 2000年01月21日
要約：

【要約】【課題】試料中の2種類以上の測定対象物を分析するための多波長蛍光偏光法を提供すること。多波長蛍光偏光法を利用して試料中に含まれる2種類以上の測定対象物を定量するためのキットおよびシステムを提供すること。【解決手段】多波長蛍光偏光法は、(a)2種類以上の蛍光標識物質であって、異なる測定対象物にそれぞれ特異的に結合する物質と測定対象物ごとに異なる蛍光色素とが共有結合した蛍光標識物質を提供する工程、(b)該蛍光標識物質を2種類以上の測定対象物と結合させる工程、および(c)それぞれの測定対象物が結合した蛍光標識物質の蛍光偏光度変化を測定する工程、を包含する。

請求項（抜粋）：

試料中の2種類以上の測定対象物を分析するための多波長蛍光偏光法であって、以下の工程:(a)2種類以上の蛍光標識物質であって、異なる測定対象物にそれぞれ特異的に結合する物質と測定対象物ごとに異なる蛍光色素とが共有結合した蛍光標識物質を提供する工程、(b)該蛍光標識物質を2種類以上の測定対象物と結合させる工程、および(c)それぞれの測定対象物が結合した蛍光標識物質の蛍光偏光度変化を測定する工程、を包含する、多波長蛍光偏光法。

IPC (5件)：

G01N 33/536 ,  G01N 21/64 ,  G01N 33/542 ,  G01N 33/543 501 ,  G01N 33/543 575

FI (5件)：

G01N 33/536 E ,  G01N 21/64 A ,  G01N 33/542 A ,  G01N 33/543 501 D ,  G01N 33/543 575

Fターム (8件)：

2G043AA01 ,  2G043BA16 ,  2G043DA02 ,  2G043EA01 ,  2G043FA06 ,  2G043GA07 ,  2G043GB21 ,  2G043KA07

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平3-188374
  
• 特開平3-279860
  
• 特開昭62-025263