特許
J-GLOBAL ID：200903023217013432
化学品混合物中の化合物を同定する方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
青山 葆 (外2名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-576472
公開番号（公開出願番号）：特表2002-527756
出願日： 1999年10月14日
公開日（公表日）： 2002年08月27日
要約：
【要約】質量分析計データを自動的に分析するための装置および方法は、MSデータファイルのロード(100);強度、質量および時間の解析(110);強度閾値未満のシグナルの排除(120);予測された質量リストのロード(130)から予測された質量をシフトして(140)質量シグナルとの比較(150);ピーク検出パラメータの負荷(160);認識アルゴリズムの使用(180);および構造同定質量の出力(190)を含む技術を有する。
請求項（抜粋）：
質量分析計データの分析方法であって、工程:(a)質量分析計の操作を対照試料で行い、その際、該操作により第一の複数の出力値が得られ、該第一の複数の出力値の各々は関連するm/z比の値を有し、(b)質量分析計の操作を分析すべき材料に対して行い、その際、該操作により第二の複数の出力値が得られ、該第二の複数の出力値の各々は関連するm/z比の値を有し、(c)計算した質量分析計の出力スペクトルの前以て決定したライブラリーから第一の予期されたm/z比を選択して該第一の予期された出力m/z比での該第一の複数の出力値を該第一の予期されたm/z比での該第二の複数の出力値から差し引き、その際、該差し引きにより該第一の予期されたm/z比での差異の値が得られ、(d)該差異の値の関数として、もしも該差異の値が前以て決定した値により0を超えるなら、該第一の予期されたm/z比および該第二の複数の出力値の該関連する値を含むフラッグシグナルを生成し、(e)該フラッグシグナルを記憶部に貯蔵し、ついで(f)工程(c)〜(e)を、計算した質量分析計の出力スペクトルの該前以て決定したライブラリー中の残りの全ての予期されたm/z比の個々のものについて繰り返すことを含む方法。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G01N 27/62 X
, G01N 27/62 D
, H01J 49/02
