光学測定装置、光学測定システム及び画像形成装置

発明者： , , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：中島淳 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-068930
公開番号（公開出願番号）：特開2000-266672
出願日： 1999年03月15日
公開日（公表日）： 2000年09月29日
要約：

【要約】【課題】画像濃度について高精度の測定を可能とする光学測定装置、光学測定システム及び画像形成装置を得る。【解決手段】光学測定装置は紙面Pに対して垂直な光軸CLを有するレンズ14を備え、レンズ14の光軸CL上でレンズ14の後側焦点面近傍に、フォトダイオード等の光電変換素子18が設けられ、レンズ14の光軸CLと一致または略同一方向を照射光軸とするLED12が、用紙Pを介して集光レンズ14の設置位置と反対側に設けられている。用紙Pと光源12との間には、制限部材22が設けられ、光源12からの照射光が、制限部材22により制限されて紙面Pに照射され、紙面P上に照射領域Arとなる範囲へ照射光が照射される。

請求項（抜粋）：

対象物からの光を集光レンズにより集光し、前記集光レンズの焦点位置近傍に設けられた受光素子で光量を検出して前記対象物に関する特性を測定する光学測定装置であって、前記受光素子を備え、前記対象物の透過光が前記集光レンズを透過した透過光束を含むように前記焦点位置近傍に定めた特定領域を、通過した光のみを受光する受光手段と、前記対象物を介し前記集光レンズと対向して設けられかつ前記対象物へ光を照射するための光源と、前記特定領域に対応して定まる前記対象物における照射領域にのみ前記光源からの光が照射されるように、前記光源からの光を制限する制限手段と、を備えたことを特徴とする光学測定装置。

IPC (4件)：

G01N 21/59 , G01J 1/00 , G01J 3/50 , G03G 15/00 303

FI (4件)：

G01N 21/59 L , G01J 1/00 B , G01J 3/50 , G03G 15/00 303

Fターム (45件)：

2G020AA08 , 2G020DA12 , 2G020DA22 , 2G020DA31 , 2G020DA34 , 2G020DA65 , 2G059AA01 , 2G059AA03 , 2G059BB10 , 2G059DD12 , 2G059EE01 , 2G059EE12 , 2G059FF01 , 2G059JJ11 , 2G059JJ30 , 2G059KK01 , 2G059KK04 , 2G059LL01 , 2G059LL04 , 2G065AA04 , 2G065AB09 , 2G065AB22 , 2G065AB23 , 2G065AB24 , 2G065AB26 , 2G065AB28 , 2G065BA04 , 2G065BA09 , 2G065BB05 , 2G065BB06 , 2G065BB23 , 2G065BB24 , 2G065BB44 , 2G065BC13 , 2G065BC33 , 2G065DA01 , 2G065DA17 , 2H027DE02 , 2H027EB04 , 2H027EC04 , 2H027EC09 , 2H027EE07 , 2H027EF08 , 2H027FB07 , 2H027FB15

引用特許：

審査官引用 (2件)

特開平3-083462
特開平3-083462

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