特許
J-GLOBAL ID：200903023384671280
製品の試験順序決定方法および装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
富田 和子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-055887
公開番号（公開出願番号）：特開平7-260888
出願日： 1994年03月25日
公開日（公表日）： 1995年10月13日
要約：
【要約】【目的】 ICのテスト時間の短縮を可能とする集積回路の試験順序決定方法および装置を提供する。【構成】 テスト条件表作成部105はテスト条件表114およびリレーションデータ115を参照して対象となるテスト項目毎にテスト条件表を作成する。テスト項目間距離計算部106は実行順序を求める対象となるテスト項目のうち、あるテスト項目に続いて次のテスト項目を実行する場合に、次のテスト項目のテスト準備にかかる時間を表す尺度であるテスト項目間の距離を、すべてのテスト項目を一度ずつ順次に実行する時の実行順序のすべての組み合わせのそれぞれについて、上記のテスト条件表と実行時間データベース113およびリレーションデータ115とを参照して計算する。最短経路探索部107はこの距離の累積値に基づき最小の試験時間を示す距離の累積値が得られる実行順序を求める。
請求項（抜粋）：
各々テスト条件の設定命令とテスト実行命令とからなるテスト項目を、複数、順次に実行して製品の試験を行う際に、該テスト項目の実行順序を試験時間が最小となるように決定する試験順序決定方法であって、あるテスト項目に続いて次のテスト項目を実行する場合に、該次のテスト項目のテスト準備にかかる時間を表す尺度であるテスト項目間の距離を、すべてのテスト項目を一度ずつ順次に実行する時の実行順序のすべての組み合わせのそれぞれについて累積計算し、該累積計算結果に基づき最小の試験時間を示す該距離の累積値が得られる実行順序を求めることを特徴とする製品の試験順序決定方法。
IPC (2件)：
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