特許
J-GLOBAL ID:200903023482169673
高屈折率導電膜、低反射導電膜、およびその製造方法
発明者:
,
,
,
,
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
泉名 謙治
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-154057
公開番号(公開出願番号):特開平5-303908
出願日: 1992年04月24日
公開日(公表日): 1993年11月16日
要約:
【要約】【構成】Zr(OR)m R ́n 、In化合物、Sn化合物を含有する塗布液を塗布後、加熱かつ/または紫外線照射により高屈折率導電膜を形成する。この上にSi化合物含有溶液を用いて低屈折率膜を形成して低反射導電膜を製造する。【効果】蒸着やスパッタリング等のように大がかりな設備を必要とせず、優れた低反射導電膜を製造できる。
請求項(抜粋):
Zr(OR)mR'n (n+m=4, m=1〜4, n=0〜3 、R および R'=C1〜C4のアルキル基)のモノマーあるいはその重合体のうち少なくとも1種、In化合物、およびSn化合物を含有する塗布液を基体上に塗布した後、加熱かつ/または紫外線照射して高屈折率導電膜を形成することを特徴とする高屈折率導電膜の製造方法。
IPC (3件):
H01B 5/14
, H01B 13/00 503
, H01J 29/89
前のページに戻る