特許
J-GLOBAL ID:200903023507514311
測距装置
発明者:
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
鈴江 武彦 (外4名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-322293
公開番号(公開出願番号):特開2000-147366
出願日: 1998年11月12日
公開日(公表日): 2000年05月26日
要約:
【要約】【課題】本発明は、焦点検出等の測距動作に対して有害光の及ぼす影響を除去し、主要被写体に対するAF精度の向上を可能とする測距装置を提供する。【解決手段】本発明によると、撮影レンズの焦点状態、または被写体までの距離を所定の測距演算方法により検出して測距信号を出力する測距手段と、上記測距手段による測距結果に悪影響を及ぼす有害光の影響があるかを判定する有害光判定手段と、上記有害光判定手段において有害光が含まれていると判断された場合には、有害光の影響を除去するように上記測距手段による所定の測距演算方法を変更する制御手段とを具備することを特徴とする測距装置が提供される。
請求項(抜粋):
撮影レンズの焦点状態、または被写体までの距離を所定の測距演算方法により検出して測距信号を出力する測距手段と、上記測距手段による測距結果に悪影響を及ぼす有害光の影響があるかを判定する有害光判定手段と、上記有害光判定手段において有害光が含まれていると判断された場合には、有害光の影響を除去するように上記測距手段による所定の測距演算方法を変更する制御手段と、を具備することを特徴とする測距装置。
IPC (5件):
G02B 7/28
, G01B 11/00
, G01C 3/06
, G02B 7/34
, G03B 13/36
FI (5件):
G02B 7/11 N
, G01B 11/00 B
, G01C 3/06 V
, G02B 7/11 C
, G03B 3/00 A
Fターム (58件):
2F065AA06
, 2F065CC00
, 2F065DD09
, 2F065DD12
, 2F065EE05
, 2F065FF01
, 2F065FF04
, 2F065FF05
, 2F065GG08
, 2F065JJ25
, 2F065JJ26
, 2F065LL04
, 2F065MM22
, 2F065NN16
, 2F065QQ08
, 2F065QQ12
, 2F065QQ21
, 2F065QQ23
, 2F065QQ25
, 2F065QQ34
, 2F065QQ37
, 2F065QQ38
, 2F065QQ51
, 2F065SS03
, 2F065SS13
, 2F112AA08
, 2F112AA10
, 2F112AC04
, 2F112BA06
, 2F112BA07
, 2F112BA14
, 2F112CA02
, 2F112DA04
, 2F112DA28
, 2F112DA40
, 2F112FA03
, 2F112FA09
, 2F112FA12
, 2F112FA14
, 2F112FA21
, 2F112FA38
, 2F112FA45
, 2H011AA01
, 2H011BA21
, 2H011BB02
, 2H011BB03
, 2H011BB04
, 2H011BB05
, 2H011DA01
, 2H051AA05
, 2H051AA06
, 2H051BA02
, 2H051CB20
, 2H051CE07
, 2H051CE18
, 2H051CE21
, 2H051DA03
, 2H051DA22
引用特許:
出願人引用 (2件)
-
焦点検出装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-065089
出願人:株式会社ニコン
-
特開昭63-005315
審査官引用 (2件)
-
焦点検出装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-065089
出願人:株式会社ニコン
-
特開昭63-005315
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